1.8 Diffraction par rayons X
Ce sujet est proposé par Vincent Magnin du département Science des Matériaux
(bureau F123, tél. : 7369).
1.8.1 Objectif
L'année dernière deux étudiants ont écrit un programme en Java permettant
de repérer automatiquement les taches d'un cliché de diffraction par
rayons X et de les grouper selon des hyperboles repérées par des angles.
Il s'agit de poursuivre ce travail.
1.8.2 Matériel
Tous les documents et explications scientifiques nécessaires seront bien
sûr mis à disposition des étudiants traitant cet avant-projet.
1.8.3 Travail à réaliser
Votre travail consistera à reprendre ce logiciel, à l'améliorer et surtout
à ajouter les étapes de traitement qui suivent :
-
A partir des angles calculés par le logiciel du projet précédant, il
s'agira de tracer une projection stéréographique où seront positionnés les
points repérant les angles de diffraction. Remarque : une projection
stéréographique est simplement la projection sur un plan d'une sphère et
de ses parallèles et méridiens.
- Il faut ensuite faire coïncider cette projection avec une projection de
référence, en faisant tourner l'une par rapport à l'autre. L'angle de
rotation permet de connaître l'orientation du cristal étudié.
- On déduira des étapes précédentes les facteurs de Schmid de chaque
système de glissement (ces facteurs indiquent simplement quels sont les
plans du cristal qui vont glisser les uns sur les autres quand on va
compresser le cristal).
D'autres améliorations de moindre importance seraient également
appréciées, en particulier en ce qui concerne le traitement d'image
permettant de repérer les taches du cliché, le traitement actuel étant
très imparfait.
Ce logiciel devant être utilisé à des fins pédagogiques (TP SM2), le
déroulement de chaque étape devra apparaître de façon claire et détaillée.